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測(cè)試，相信對(duì)每一個(gè)搞程序的都不會(huì)生疏，然后我們會(huì)聯(lián)想到什么單元測(cè)試，集成測(cè)試，發(fā)布測(cè)試，黑盒測(cè)試，白盒測(cè)試等等一系列的名詞。但在單片機(jī)領(lǐng)域，更多的功能測(cè)試。測(cè)試人員，在試用產(chǎn)品后，發(fā)現(xiàn)bug然后報(bào)告給研發(fā)人員，往往忽略中間的單元測(cè)試，在開發(fā)的過程中就保證各模塊的功能。
對(duì)于一些JAVA， C++開發(fā)人員，cppunit， junit這些自動(dòng)化測(cè)試框架，然而，對(duì)于單片機(jī)開發(fā)人員，又怎么實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試呢？
下面就UART驅(qū)動(dòng)的測(cè)試說起。
測(cè)試的目的
首先確認(rèn) 功能這條主線可以走通。比如UART發(fā)送字符這個(gè)功能主線是：SysCtl 配置MCU時(shí)鐘源，配置UART時(shí)鐘源， SysCtl使能UART外設(shè)， GPIO配置RX， TX管腳的復(fù)用，配置BAUD工作模式等，然后才是發(fā)送。 也就是說，想要成功發(fā)送一個(gè)字符，前面的每一個(gè)都不能缺失。
其次是功能的正確性。
在其次是改善，改進(jìn)，優(yōu)化。
什么是一個(gè)測(cè)試
測(cè)試，給定一個(gè)條件，然后會(huì)得到一個(gè)結(jié)果，期望的結(jié)果與實(shí)際的結(jié)果比較，如果一致，就說測(cè)試通過，否則，失敗。待測(cè)功能，就像是一個(gè)方程式，我們一個(gè)一個(gè)的代入，看每一次的結(jié)果是否正確。
對(duì)于人來說，最終的結(jié)果，需要通過人的聽覺或視覺感知的。從終端看到一個(gè)Pass說明測(cè)試通過，LCD正確顯示了字符，也說明了通過。我把測(cè)試分了一下類：
不能通過程序讀到結(jié)果的，只能通過人看到或聽到的，比如LCD， 這類無(wú)法實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試。
一類可以通過程序讀到結(jié)果的，一般是執(zhí)行了一些程式，會(huì)得到一個(gè)狀態(tài)/結(jié)果，程序正好可以讀到。比如 Write后Read.
可以把底一類轉(zhuǎn)換成第二類的。比如UART的發(fā)送，可以通過超級(jí)終端看到結(jié)果判斷，也可以借助UART2（功能正確的）， 它們之間通信，來實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化。
都說C語(yǔ)言 = 函數(shù) + 數(shù)據(jù)，測(cè)試同樣。好點(diǎn)的代碼，是不會(huì)把數(shù)據(jù)與函數(shù)混在一起的。那么什么是測(cè)試數(shù)據(jù)呢？
typedef struct
{
tTestCondition sCondiTIon;
tTestResult sExpectResult;
}tTestData;
tTestData psTestDataTable［］ = {
{ ， }，
{ ， }，
};
一個(gè)一個(gè)測(cè)試，將構(gòu)成這樣一個(gè)結(jié)構(gòu)體數(shù)組。測(cè)試數(shù)據(jù)的增加，或修改僅僅需要修改這個(gè)數(shù)組就可以，而無(wú)需修改代碼。測(cè)試，同樣變的很好維護(hù)。
什么是自動(dòng)化測(cè)試
自動(dòng)化測(cè)試，其實(shí)就是自動(dòng)調(diào)用每一個(gè)測(cè)試，一個(gè)一個(gè)調(diào)用，然后，以人可以感知的方式，報(bào)告結(jié)果。比如，在超級(jí)終端中打印PASS.
每一個(gè)測(cè)試，都可能需要首先構(gòu)造它們自己的初始環(huán)境。每一個(gè)測(cè)試之間，它們不能互相影響。也就是說，測(cè)試執(zhí)行完后，它需要還原環(huán)境到復(fù)位狀態(tài)。
下面描述下，我經(jīng)常用到的測(cè)試框架，這是我從一個(gè)開源項(xiàng)目中改變過來的：
一個(gè)測(cè)試工程，有多組測(cè)試（Suite）， 一個(gè)組（Suite）下可能有多個(gè)測(cè)試。組的概念，其實(shí)就是組件，把相似的放在一組，就像文件夾組織。
//*****************************************************************************
//
//！ brief Structure represenTIng a test case.
//
//*****************************************************************************
typedef struct
{
//
//！ brief Test case name get funcTIon.
//
char* （*GetTest）（void）;
//
//！ brief Test case preparaTIon function.
//
void （*Setup）（void）;
//
//！ brief Test case clean up function.
//
void （*TearDown）（void）;
//
//！ brief Test case execution function.
//
void （*Execute）（void）;
}
tTestCase;
Setup是為了構(gòu)造測(cè)試需要的環(huán)境。TearDown是在測(cè)試執(zhí)行后，還原測(cè)試環(huán)境。Execute才是測(cè)試主體。Execute中可以進(jìn)行一些TestAssert， 來執(zhí)行一個(gè)一個(gè)的判斷。
GetTest僅僅是為了在終端打印一下這個(gè)測(cè)試的內(nèi)容。
下面是框架main：
xtBoolean
TestMain（void）
{
int i， j;
TestIOInit（）;
PrintLine（“”）;
PrintLine（“*** CooCox CoIDE components test suites”）;
PrintLine（“***”）;
#ifdef TEST_COMPONENTS_NAME
Print（“*** Components： ”）;
PrintLine（TEST_COMPONENTS_NAME）;
#endif
#ifdef TEST_COMPONENTS_VERSION
Print（“*** Version： ”）;
PrintLine（TEST_COMPONENTS_VERSION）;
#endif
#ifdef TEST_BOARD_NAME
Print（“*** Test Board： ”）;
PrintLine（TEST_BOARD_NAME）;
#endif
PrintLine（“”）;
g_bGlobalFail = xfalse;
i = 0;
while （g_psPatterns［i］）
{
j = 0;
while （g_psPatterns［i］［j］）
{
PrintNewLine（）;
Print（“--- Test Case ”）;
PrintN（i + 1）;
Print（“。”）;
PrintN（j + 1）;
Print（“ （”）;
Print（g_psPatterns［i］［j］-》GetTest（））;
PrintLine（“）”）;
ExecuteTest（g_psPatterns［i］［j］）;
if （g_bLocalFail == xtrue）
{
Print（“--- Result： FAILURE ”）;
PrintLine（“”）;
//
//printf error information
//
Print（g_pcErrorInfoBuffer）;
PrintLine（“”）;
if （g_pcTokensBuffer 《 g_pcTok）
{
Print（“ The tokens in buffer is： ”）;
PrintTokens（）;
PrintLine（“”）;
}
}
else
{
PrintLine（“--- Result： SUCCESS ”）;
}
j++;
}
i++;
}
PrintNewLine（）;
PrintLine（“”）;
Print（“Final result： ”）;
if （g_bGlobalFail == xtrue）
PrintLine（“FAILURE”）;
else
PrintLine（“SUCCESS”）;
return g_bGlobalFail;
}
如需完整的測(cè)試框架代碼，請(qǐng)聯(lián)系我，或前往我們的開源項(xiàng)目：https://github.com/coocox/cox.
這是一個(gè)統(tǒng)一API標(biāo)準(zhǔn)的外設(shè)庫(kù)。基于CoX的驅(qū)動(dòng)，無(wú)需移植，就可以用到其他MCU平臺(tái)。
